Curso de Microscopia Eletrônica Forense

Olá para todos,

Estamos programando um curso de Microscopia Eletrônica Forense, que deverá acontecer nos dia 30 de setembro a 2 de outubro, imediatamente antes do XXII Congresso da Sociedade Brasileira de Microscopia e Microanálise (CSBMM) em Belo Horizonte, MG.

A Karla Balzuweit, atual presidente da SBMM, gentilmente cedeu o MEV Quanta 3D do Centro de Microscopia Eletrônica para o curso, que será PRÁTICO. A FEI Company vai instalar o software de análise de resíduos de tiro no equipamento especialmente para o curso, que deverá ser ministrado pelo especialista forense da FEI, Hans Kruesemann. Além de resíduos de tiro, poderemos analisar outros tipos de amostras, como fragmentos de tinta, documentos, fibras, projetis, etc. Os participantes poderão levar amostras para observação durante o curso. Acredito que em breve a Karla deverá disponibilizar as informações para inscrição no site do congresso (www.sbmm.org.br/sbmm2009).

Será uma ótima oportunidade de trocarmos experiências.

Por favor, divulguem para os interessados.

att.,

Andrea Martiny
Pesquisadora – Inmetro
tel. (21) 2679-9845, 2679-9001, r. 3071
Fax. (21) 2679-9837
E-mail: amartiny@inmetro.gov.br

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